联博开奖:半导体存储器的建造要领

新2备用网址/2020-07-08/ 分类:科技/阅读:

本申请案享有以日本专利申请案2018-224042号(申请日:2018年11月29日)为基本申请案的优先权。本申请案通过参照该基本申请案而包括基本申请案的所有内容。

本发现的实验方法涉及一种半导体存储器。



配景技能:

已知一种存储单位三维分列的nand(notand,与非)型闪存。



技能实现要素:

实验方法提供一种可以或许低落制造本钱的半导体存储器。

实验方法的半导体存储用具备:位线;选择晶体管,第1端子毗连于位线;存储单位,毗连于选择晶体管的第2端子;电路,毗连于位线,且将经过第1端子及第2端子施加于存储单位的删除电压施加于位线;以及二极管,其毗连于位线及电路。

附图声名

图1是暗示包括第1实验方法的半导体存储器的体系的图。

图2是暗示第1实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图3是暗示第1实验方法的半导体存储器的存储单位阵列的一例的电路图。

图4是暗示第1实验方法的半导体存储器的结构例的俯视图。

图5是暗示第1实验方法的半导体存储器的结构例的剖视图。

图6是暗示第1实验方法的半导体存储器的结构例的图。

图7是暗示第1实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图8是暗示第1实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图9是暗示第1实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图10是暗示第1实验方法的半导体存储器的动作例的图。

图11是暗示第1实验方法的半导体存储器的动作例的图。

图12是暗示第1实验方法的半导体存储器的动作例的图。

图13是暗示第2实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图14是用来声名第2实验方法的半导体存储器的图。

图15是暗示第2实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图16是暗示第2实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图17是暗示第2实验方法的半导体存储器的组成例的图。

图18是用来声名第2实验方法的半导体存储器的图。

图19是暗示实验方法的半导体存储器的变革例的图。

图20是暗示实验方法的半导体存储器的变革例的图。

详细实验方法

参照图1至图20,对实验方法的半导体存储器举办声名。

以下,一边参照图式,一边对本实验方法具体地举办声名。在以下的声名中,针对具有统一成果及组成的要素,标注统一标记。

其它,在以下的各实验方法中,在末端标注带有效来区别化的数字/英文的参照标记(譬喻,字线wl或位线bl、各类电压及信号等)的组成要素也可不彼此区此外情形下,行使省略了末端的数字/英文的记实(参照标记)。

(1)第1实验方法

参照图1至图13,对第1实验方法的半导体存储器(存储器装置)及其节制要领举办声名。

(a)组成

行使图1至图10,对第1实验方法的半导体存储器的组成举办声名。

(a-1)存储器体系

图1是暗示包括本实验方法的半导体存储器的存储器体系的组成例的表示图。

图1是暗示本实验方法的存储器体系的图。

如图1所示,本实验方法的存储器体系7包括储存装置500、及主机装置600。

主机装置600譬喻通过毗连器、电缆、无线通讯、或因特网等而耦合于储存装置500。主机装置600要求储存装置500举办数据的写入、数据的读出及数据的删除。

储存装置500包括存储器节制器5、及半导体存储器(存储器装置)1。

存储器节制器5使半导体存储器1实行按照主机装置600的要求的动作。存储器节制器5为了使半导体存储器1执举措作而刊行呼吁。存储器节制器5将刊行的呼吁发送至半导体存储器1。呼吁是暗示半导体存储器1应实行的动作的信号。

存储器节制器5譬喻包括处理赏罚器(cpu)、内建存储器(譬喻,dram(dynamicrandomaccessmemory,动态随机存取存储器))、缓冲存储器(譬喻,sram(staticrandomaccessmemory,静态随机存取存储器))及ecc(errorcorrectingcode,错误校正码)电路等。处理赏罚器节制存储器节制器5团体的动作。内建存储器生涯措施(软件/固件)、及储存装置/半导体存储器的打点资讯(打点表)。缓冲存储器暂且地生涯半导体存储器1与主机装置600之间收发的数据。ecc电路检测从半导体存储器1读出的数据内的错误,并校正检测出的错误。

半导体存储器1存储数据。半导体存储器1基于来自存储器节制器5的呼吁(主机装置600的要求),而实行数据的写入、数据的读出及数据的删除。

半导体存储器1譬喻为nand型闪存。包括nand型闪存1的储存装置500(或存储器体系7)譬喻为存储卡(譬喻,sdtm(securedigital,平安数字)卡、emmctm(embeddedmultimediacard,嵌入式多媒体卡))、usb(universalserialbus,通用串行总线)存储器、或固态驱动器(ssd)等。

在nand型闪存1与存储器节制器5之间收发各类信号。譬喻,作为闪存1与存储器节制器5之间的基于nand接口规格的节制信号,行使芯片使能信号cen、呼吁锁存使能信号cle、地点锁存使能信号ale、写入使能信号wen及读出使能信号ren等。

信号cen是用来激活闪存1的某一芯片的信号。信号clen是用来关照供应至i/o端子(i/o线)io<7:0>的信号为呼吁的信号。信号alen是用来关照供应至i/o端子io<7:0>的信号为地点的信号。信号wen譬喻为指示经过i/o端子io<7:0>的信号的输入的信号。信号ren譬喻为指示经过i/o端子io<7:0>的信号的输出的信号。

另外,以下,在不区别从i/o端子输入输出的信号的种类的情形下,从i/o端子输入输出的信号也记为i/o信号(或dq信号)。

停当/繁忙信号rbn基于闪存1的动作状况而天生。停当/繁忙信号rbn从闪存1发送至存储器节制器5。停当/繁忙信号rbn是关照存储器节制器5闪存1为停当状况(受理来自存储器节制器5的呼吁的状况)抑或是繁忙状况(不受理来自存储器节制器5的呼吁的状况)的信号。譬喻,停当/繁忙信号rbn在闪存1读出数据等动作中,设定为“l”(低)电平(繁忙状况),当动作完成时,设定为“h”(高)电平(停当状况)。

譬喻,写入掩护信号(wpn)也可进而在nand型闪存1与存储器节制器5之间收发。写入掩护信号是用来在譬喻电源接通及断开时将闪存1设定为掩护状况的信号。

(a-2)闪存

行使图2至图10,对本实验方法的半导体存储器的组成例举办声名。

<内部组成>

图2是暗示本实验方法的半导体存储器的组成的一例的框图。

如上所述,本实验方法的半导体存储器是nand型闪存。

如图2所示,nand型闪存1包括输入输出电路10、逻辑节制电路11、状况寄存器12、地点寄存器13、呼吁寄存器14、定序器15、停当/繁忙电路16、电压天生电路17、存储单位阵列18、行解码器19、感测放大器20、数据寄存器21、列解码器22及删除电路23等。

输入输出电路10节制信号io的输入输出。

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